內(nèi)校分析電子天平是一種具備自動校準功能的高精度稱量設備，廣泛應用于實驗室、制藥、化工等領域。其核心優(yōu)勢在于無需外部砝碼即可實現(xiàn)快速校準，確保稱量結(jié)果的長期穩(wěn)定性和準確性。

 

核心結(jié)構(gòu)與原理：
 

1.內(nèi)部校準砝碼：

內(nèi)置高精度砝碼（如100g或200g），通常位于天平底部或側(cè)面。

材質(zhì)為不銹鋼或特殊合金，經(jīng)過激光校準，精度可達±0.01%。

2.傳感器技術：

電磁力平衡傳感器：通過電磁力補償樣品重量，實現(xiàn)快速響應。

應變片傳感器：利用金屬應變片的形變測量重量，適合靜態(tài)稱量。

3.自動校準流程：

觸發(fā)條件（定時/溫度變化/開機）：天平自動加載內(nèi)部砝碼。

傳感器檢測砝碼重量，與預設值對比。

調(diào)整內(nèi)部參數(shù)（如增益、偏移量），完成校準。

校準結(jié)果記錄并顯示（如“CAL Done”）。

內(nèi)校電子天平與外校天平的對比：

對比項	內(nèi)校天平	外校天平
校準方式	自動加載內(nèi)部砝碼	需手動放置外部砝碼
便捷性	高（適合實驗室高頻使用）	低（依賴外部砝碼管理）
校準范圍	受限于內(nèi)部砝碼重量（如200g）	可擴展至全量程（如1kg+）
成本	較高（內(nèi)置砝碼+復雜結(jié)構(gòu)）	較低（結(jié)構(gòu)簡單）
適用場景	常規(guī)分析（≤200g）	大質(zhì)量稱量或特殊精度需求